En aplicaciones críticas para la seguridad, la detección de defectos de fabricación es de suma importancia, incluso si no afectan significativamente al rendimiento. Por lo tanto, los enfoques de test orientados a defectos son necesarios, pero su validación es compleja: la simulación de defectos es computacionalmente exigente. Para circuitos y sistemas complejos de señales analógicas y mixtas (AMS), el número de defectos posibles puede ser muy grande y si la evaluación de cada uno de los defectos requiere una simulación transitoria compleja, la simulación exhaustiva es simplemente inabarcable. Se han propuesto enfoques estadísticos para estimar la cobertura de defectos, pero una de las principales deficiencias de estos enfoques es la validación experimental. Por un lado, es casi imposible acceder a las estadísticas de defectos de las piezas comerciales, ya que estos datos son muy sensibles en cuanto a la imagen de la empresa. Por otra parte, también es imposible fabricar (y probar) una cantidad suficiente de circuitos para obtener estadísticas fiables en un entorno académico. Los servicios de integración de Europractice suelen dar acceso a unas 50 partes, muy por debajo del nivel de producción necesario para estimar una tasa de defectos del orden de decenas de ppm. Para abordar este problema de validación, el proyecto propone adaptar el marco de la evaluación estadística de la cobertura de defectos al estudio de la sensibilidad de los circuitos complejos de señales analógicas y mixtas a los eventos transitorios inducidos por la radiación (SET).